熱情歡迎您來電咨詢電池設備相關問題!

咨詢電話:15976190759

Zeta電位及納米粒度分析儀
納米粒度分析儀(NANOTRAC FLEX)
產品簡介:
NANOTRAC FLEX 納米粒度分析儀采用全新的動態光散射技術(DLS),首次引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生頻率變化的能譜概念,快速準確地得到被測體系的納米粒度分布,外置固定式光
咨詢熱線:15976190759
產品詳情

產品型號:NANOTRAC FLEX

品牌:Microtrac MRB/麥奇克
原產地:德國


產品詳情

納米粒度測量——先進的動態光背散射技術

隨著顆粒粒徑的減小,例如分子級別的大小,顆粒對光的散射效率急劇降低,使得經典動態光散射技術的自相關檢測(PCS)變得更加不確定。40多年來,Microtrac MRB一直致力于激光散射技術在顆粒粒度測量中的應用。作為行業的先鋒,早在1990年,超細顆粒分析儀器 UPA(UltrafineParticle Analyzer)研發成功,首次引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生頻率變化的能譜概念,快速準確地得到被測體系的納米粒度分布。2001年,利用背散射(Back-scattered)和異相多譜勒頻移(HeterodyneDoppler Frequency Shifts)技術,結合動態光散射理論和先進的數學處理模型,NPA150/250將分析范圍延伸至0.3nm-10μm,樣品濃度更可高達百分之四十,基本實現樣品的原位檢測。異相多普勒頻移技術采用可控參考穩定頻率,直接比照因顆粒的布朗運動而產生的頻率漂移,綜合考慮被測體系的實時溫度和粘度,較之于傳統的自相關技術,信號強度高出幾個數量級。另外,新型“Y”型梯度光纖探針的使用,實現了對樣品的直接測量,極大的減少了背景噪音,提高了儀器的分辨率。


測量原理:

粒度測量:動態光背散射技術和全量程米氏理論處理

分子量測量:水力直徑或德拜曲線


光學系統:

3mW780nm半導體固定位置激光器,通過梯度步進光纖直接照射樣品,在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號,無需校正光路


軟件系統:

先進的FLEX軟件提供強大的數據處理能力,包括圖形,數據輸出/輸入,個性化輸出報告,及各種文字處理功能,如PDF格式輸出, Internet共享數據,Microsoft Access格式(OLE)等。體積,數量,面積及光強分布,包括積分/微分百分比和其他分析統計數據。數據的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,包括口令保護,電子簽名和指定授權等。


外部環境:

電源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz

環境要求:溫度,10-35°C

國際標準:符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008


主要特點:

? 采用先進的動態光散射技術,引入能普概念代替傳統光子相關光譜法

? 異相多譜勒頻移技術,較之傳統的方法,獲得光信號強度高出幾個數量級,提高分析結果的可靠性。

? 可控參比方法(CRM),能精細分析多譜勒頻移產生的能譜,確保分析的靈敏度。

? 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計,減少了多重散射現象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。

? 快速傅利葉變換算法(FFT,Fast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測系統獲得的能譜,縮短分析時間。

? 膜電極設計,避免產生熱效應,能準確測量顆粒電泳速度。

? 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,諸如光路中不同光學元器件間傳輸的損失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。

產品參數
粒度分析范圍 0.3nm-10μm
重現性 誤差≤1%
濃度范圍 100ppb-40%w/v
檢測角度 180°
樣品體積 依賴于客戶的樣品杯
兼容性 水相和有機相
上一篇:納米粒度及zeta電位儀(NANOTRAC WAVE II) 下一篇:沒有了
上一篇:納米粒度及zeta電位儀(NANOTRAC WAVE II)
下一篇:沒有了
尤物久久综合视频